XAFS和XES区别

XAFS通常局限于高浓度样品的透射几何测量，而台式XES可以研究相对低含量的样品。

对于先进的X射线光谱方法，如X射线吸收精细结构谱XAFS（含XAS、XANES、NEXAFS和EXAFS），其情况却大不相同。XAFS利用所产生光电子的量子干涉，来实现对近程结构和电子特性进行了元素特异性的分析。当需要分析特定元素的局部结构和化学环境时，XAFS具有特殊作用。

相反，XES的情况。理论上，所有高于相关材料结合能Eb的光子都能激发荧光。这必然导致了x射线光管的通量的利用率更高。虽然具体情况会因样品化学性质的不同而有所不同，但作为一种粗略的近似，Eb和2Eb之间的通量对离表面足够近的激发荧光相对有效，以至于荧光常常可以逃离样品进入光谱仪。更高能量的入射光子穿透样品太深，产生荧光的都在样品的内部，大多都被吸收，能被光谱仪收集的荧光非常有限。